أعلى 10 النشر في مجال الالكترونيات الدقيقة والتعبئة والتغليف الإلكترونية التي كتبها استشهاد
بريد: PAM-شيامنوتاريخ: يناير 13،2020
وقد جمعت PAM-شيامن أعلى 10 البيانات الترتيب واسم المنشور في الدقيقة والتعبئة والتغليف الإلكترونية من قبل الاستشهاد في عامل التأثير (مؤشر h5 والوسيط H5، وفقا لجوجل الباحث)
نشر أعلى هم:
منشور | مؤشر h5 | متوسط h5 | |
1. | المعاملات IEEE على الأجهزة الإلكترونية | 56 | 66 |
2. | خطابات جهاز IEEE الكترون | 53 | 69 |
3. | اجتماع IEEE الدولية الكترون الأجهزة، IEDM | 44 | 62 |
4. | رسائل الالكترونيات | 39 | 50 |
5. | الهندسة الدقيقة | 34 | 46 |
6. | الالكترونيات الدقيقة الموثوقية | 32 | 42 |
7. | المعاملات IEEE على مكونات والتغليف وتكنولوجيا التصنيع | 30 | 37 |
8. | IEEE / MTT S-الندوة الدولية ميكروويف | 28 | 38 |
9. | الالكترونيات الدقيقة مجلة | 28 | 36 |
10. | ندوة IEEE على تقنية VLSI | 27 | 46 |
إشارة: الالكترونيات الدقيقة والتعبئة والتغليف الإلكترونية
أعلى 1 هو المعاملات IEEE على الكترون الأجهزة، التي تنشر المساهمات الأصلية والهامة المتصلة نظرية، والنمذجة والتصميم والأداء والاعتمادية من الإلكترونات والأيونات متكاملة أجهزة الدوائر الكهربائية والوصلات. في هذا المنشور، أعلى 5 المواد لديها أكبر مساهمة مؤشر h5:
العنوان / الكاتب | استشهد بها | عام |
Experimental Demonstration and Tolerancing of a Large-Scale Neural Network (165 000 Synapses) Using Phase-Change Memory as the Synaptic Weight Element
GW الأزيز، RM شيلبي، S سيدلر، C دي Nolfo، J جانغ، I Boybat، RS شينوي، ... |
353 | 2015 |
GaN-on-Si Power Technology: Devices and Applications
KJ تشن يا Häberlen، A Lidow، C لين تساي، T اويدا، Y Uemoto، Y وو |
205 | 2017 |
Vertical Power pn Diodes Based on Bulk GaN
IC Kizilyalli، AP إدواردز، O اكتاس، T برونتي، D سبع البور |
170 | 2014 |
Basic Mechanisms of Threshold-Voltage Instability and Implications for Reliability Testing of SiC MOSFETs
AJ Lelis، R الأخضر، DB Habersat، M شركة |
155 | 2014 |
Crossbar RRAM Arrays: Selector Device Requirements During Read Operation
J تشو، KH كيم، W لو |
107 | 2014 |
واقترح نظام التقييم H-عامل في الأصل من قبل خورخي هيرش، وهو فيزيائي ولاية كاليفورنيا، لتقييم تأثير عالما. وهذا يعني أن الشخص قد استشهد ما لا يقل عن ن الأوراق في كل أوراقه الأكاديمية المنشورة، وله ح مؤشر هو ن. وبالمثل، وجوجل الاستخدامات عالم أنها لتقييم مجلة ويضع حدا زمنيا مدته خمس سنوات لتجنب المشكلة أن عامل H فقط زيادة ولا نقصان. مفهوم آخر ذي صلة هو H5 الوسيط، الذي يشير إلى عدد من الاستشهادات من H-CORE أوراق المتوسط. وهو أيضا يختلف عن مفهوم المتوسط عند حساب عوامل التأثير.
مقارنة مع عوامل التأثير لمدة عامين، فإنه من الصعب على الناس أن التلاعب عمدا المؤشرات مجلة المقاييس على H5. لا يزيد من عامل H5 بشكل كبير نظرا لوجود عدد من الأوراق المذكورة. كما ذكر في وقت سابق، عن عمد الحد فإن عدد المشاركات يكن فقط أي تأثير على تعزيز عوامل H5، ولكن أيضا أن يكون لها تأثير سلبي. هنا H5 هو بسبب مقالات نشرت في 2014-2018
تعريف: الالكترونيات الدقيقة والتغليف الالكترونية: دراسة وتصنيع الالكترونيات الدقيقة، ورقائق متعددة وحدة التقنيات والتعبئة والتغليف الإلكترونية، ومواد أشباه الموصلات، سطح جبل وغيرها من التكنولوجيات ذات الصلة، والترابط، RF وأفران ميكروويف والاتصالات اللاسلكية وتصنيع وتصميم واختبار والموثوقية استنادا إلى المواد أشباه الموصلات مثل رقاقة السيليكون، كربيد ويفر، والجاليوم رقاقة. سلسلة عملية كاملة هي الركيزة أشباه الموصلات، وتنضيد أشباه الموصلات، وأجهزة أشباه الموصلات أو وحدة نمطية والتعبئة والتغليف الإلكترونية.