Avanceret karakterisering af siliciumskive -solceller
Abstrakt avanceret karakterisering spiller en vigtig rolle for yderligere forbedringer af omkostningseffektiviteten ($/WP) af solceller. Dette papir præsenterer en oversigt over avancerede karakteriseringsteknikker, der i øjeblikket bruges til analyse af siliciumskivere solceller, enten i laboratoriet eller i fabrikkerne. Teknikker, der er dækket, inkluderer luminescensafbildning, levetid ...