Oblea epitaxial GaN HEMT
Gallium Nitride (GaN) HEMTs (High Electron Mobility Transistors) are the next generation of RF power transistor technology. Thanks to GaN technology, PAM-XIAMEN now offer AlGaN/GaN HEMT Epi Wafer on sapphire or Silicon, and AlGaN/GaN on sapphire template.
- Descripción
Descripción del Producto
GaN HEMT epitaxial wafer is a multilayer film grown epitaxially on a substrate, which usually includes a nucleation layer, a transition layer, a buffer layer, a channel layer, a barrier layer, a cap layer, and a passivation layer from bottom to top. The nucleation layer, like AlGaN or AlN, is used to prevent the substrate material from diffusing into the GaN epitaxial layer. The transition layer may contain hierarchical AlGaN, AlN/GaN superlattice or multilayer AlN to balance the stress between the GaN and the substrate. The higher the Al content in the barrier layer of AlGaN, the higher the 2DEG concentration at the heterojunction. Meanwhile, the lower the threshold voltage of the device, and the higher the current capacity. As the Al ratio increasing, the degree of heterogeneous crystal lattice mismatch will be higher, resulting in a decrease in gallium nitride HEMT electron mobility and a decrease in current capacity.
The High Electron Mobility Transistor (HEMT) is developed based on GaN with unique heterostructure and two-dimensional electron gas. The GaN HEMT advantages include high breakdown strength, low on-resistance and faster The switching speed, which is very suitable for medium and low voltage and medium and small power systems, such as travel adapters, wireless chargers, AC-DC converters, smart home appliances, etc. The epitaxial wafer with HEMT structure is more attractive currently for high-frequency converters, in which GaN HEMT breakdown voltage is 600~650 V. With the rapid development of gallium nitride HEMT epi technology, the price of GaN HEMT devices will be competitive, which can gain large GaN HEMT market for GaN HEMT manufacturers. Moreover, due to the gallium nitride HEMT reliability, it can be widely used in industrial fields, such as photovoltaic inverters, energy storage systems, and electric vehicles.
1. GaN HEMT Material: Available size:2”,4”,6”,8”:
More specific parameters of gallium nitride HEMT wafer for D-mode GaN HEMTs, E-mode GaN HEMTs, GaN HEMT power amplifier and RF, please refer to:
GaN en Si para potencia, modo D
GaN en Si para potencia, modo E
We are expert in HEMT structure, we also offer GaN HEMT epi wafer for many years.
For silicon substrate, we need to know if you grow GaN HEMT on silicon for POWER or RF, it is different. If needed, please contact victorchan@powerwaywafer.com for details.
For SiC, you should use semi-insulating.
Or you can buy AlGaN/GaN HEMT structure on these three structure from us.
2. Now we show you an example as follows:
2.1 Obleas epitaxiales HEMT de 2 ″ (50,8 mm) GaN
We offer 2″(50.8mm) gallium nitride HEMT Wafers, the GaN HEMT structure is as follows:
Estructura (de arriba a abajo):
* tapa de GaN sin dopar (2 ~ 3 nm)
AlxGa1-xN (18 ~ 40 nm)
AlN (capa tampón)
GaN no dopado (2 ~ 3um)
Sustrato de zafiro
* Podemos usar Si3N para reemplazar GaN en la parte superior, la adherencia es fuerte, está recubierto por sputter o PECVD.
2.2 AlGaN/GaN HEMT Epi Wafer on sapphire/GaN
Capa # | Composición | Espesor | X | dopante | Concentración de portadores |
5 | GaN | 2 nm | – | – | – |
4 | AlxGa1 – xN | 8 nm | 0.26 | – | – |
3 | AlN | 1 nm | No dopado | ||
2 | GaN | ≥1000 nm | No dopado | ||
1 | Capa de transición / búfer | – | – | ||
Sustrato | Silicio | 350 µm / 625 µm | – |
2.3 2″(50.8mm),4″ (100mm)AlGaN/GaN HEMT Epi Wafer on Si
2.3.1 Specifications for Aluminium Gallium Nitride (AlGaN) / Gallium Nitride (GaN) Transistor de alta movilidad de electrones (HEMT) sobre sustrato de silicio.
Requisitos | Especificaciones |
Oblea Epi de AlGaN / GaN HEMT en Si | |
Estructura AlGaN / GaN HEMT | Consulte 1.2 |
material del sustrato | Silicio |
Orientación | <111> |
método de crecimiento | Zona de flotación |
Tipo de conducción | P o N |
Tamaño (pulgada) | 2 ", 4" |
Espesor (μm) | 625 |
Trasero | Áspero |
Resistividad (Ω-cm) | >6000 |
Arco (μm) | ≤ ± 35 |
2.3.2 Epi structure: Crack-free Epilayers
Capa # | Composición | Espesor | X | dopante | Concentración de portadores |
5 | GaN | 2 nm | – | – | – |
4 | AlxGa1 – xN | 8 nm | 0.26 | – | – |
3 | AlN | 1 nm | No dopado | ||
2 | GaN | ≥1000 nm | No dopado | ||
1 | Capa de transición / búfer | – | – | ||
Sustrato | Silicio | 350 µm / 625 µm | – |
2.3.3 Electrical Properties of the AlGaN/GaN HEMT structure
Movilidad 2DEG (a 300 K): ≥1,800 cm2 / Vs
Densidad del portador de hojas 2DEG (a 300 K): ≥0,9 × 1013 cm-2
Rugosidad RMS (AFM): ≤ 0,5 nm (5,0 µm × 5,0 µm de área de exploración)
2.4 2″(50.8mm)AlGaN/GaN on sapphire
Para obtener especificaciones de AlGaN / GaN en una plantilla de zafiro, comuníquese con nuestro departamento de ventas: sales@powerwaywafer.com.
GaN HEMT Applications: Used in blue laser diodes, ultraviolet LEDs (down to 250 nm), and AlGaN/GaN HEMTs device.
3. Explanation of AlGaN/Al/GaN HEMTs:
Los HEMT de nitruro se están desarrollando intensamente para la electrónica de alta potencia en aplicaciones de conmutación de potencia y amplificación de alta frecuencia. A menudo, el alto rendimiento en la operación de CC se pierde cuando se cambia el HEMT; por ejemplo, la corriente en funcionamiento colapsa cuando se pulsa la señal de la puerta. Se cree que tales efectos están relacionados con la captura de carga que enmascara el efecto de la puerta sobre el flujo de corriente. Se han utilizado placas de campo en los electrodos de fuente y puerta para manipular el campo eléctrico en el dispositivo, mitigando tales fenómenos de colapso de corriente.
4. GaN EpitaxialTechnology — Customized GaN epitaxy on SiC,Si and Sapphire substrate for HEMTs, LEDs:
OBLEAS EPITAXIALES GAN HEMT (OBLEAS GAN EPI)
PAM XIAMEN Offers Epitaxial growth of AlGaN/GaN based HEMT on Si wafers
5. GaN Device:
GaN HEMT
6. Test Characterization Equipment:
Resistencia de la hoja sin contacto
Mapeo láser de espesor de película fina
Sesgo inverso de alta temperatura / alta humedad
Choque termal
Microscopio DIC Nomarski
Microscopio de fuerza atómica (AFM)
Escaneo de defectos de superficie
Sesgo inverso de alta temperatura
Resistencia de hoja 4PP
Movilidad Hall sin contacto
Ciclo de temperatura
Difracción de rayos X (XRD) / Reflectancia (XRR)
Espesor del elipsómetro
Perfilómetro
Probador de CV
7. Foundry Fabrication:
we also offer foundry GaN HEMT fabrication in the following process as follows:
Epitaxia MOCVD
Proyección de metales / E-Beam
Grabado seco / húmedo de metal / dieléctrico
Película fina PECVD / LPCVD / Sputtering
Recocido en horno / RTA
Fotolitografía (0.35um min. CD)
Implantación de iones
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