12″ Silicon Wafers 300mm TOX ( Si Thermal Oxidation Wafer )
PAM-XIAMEN ofrece oblea de óxido de silicio y oblea de dióxido de 300 mm. La oblea de silicio de óxido térmico o la oblea de dióxido de silicio es una oblea de silicio desnuda con una capa de óxido cultivada mediante un proceso de oxidación seco o húmedo. La capa de óxido térmico de la oblea de silicio generalmente se cultiva en un horno de tubo horizontal, y el rango de temperatura del óxido de la oblea de silicio es generalmente de 900 ℃ ~ 1200 ℃. En comparación con la capa de óxido CVD, la capa de óxido de oblea de silicio tiene mayor uniformidad, mejor compacidad, mayor rigidez dieléctrica y mejor calidad.
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Descripción
PAM-XIAMEN ofrece oblea de óxido de silicio y oblea de dióxido de 300 mm. La oblea de silicio de óxido térmico o la oblea de dióxido de silicio es una oblea de silicio desnuda con una capa de óxido cultivada mediante un proceso de oxidación seco o húmedo. La capa de óxido térmico de la oblea de silicio generalmente se cultiva en un horno de tubo horizontal, y el rango de temperatura del óxido de la oblea de silicio es generalmente de 900 ℃ ~ 1200 ℃. En comparación con la capa de óxido CVD, la capa de óxido de oblea de silicio tiene mayor uniformidad, mejor compacidad, mayor rigidez dieléctrica y mejor calidad.
1. Parámetros de la oblea de óxido de silicio
| Parámetros | Valor |
| tipo de lingote | Cultivado según el método Czochralski. |
| Diámetro, mm | 300 ± 0,2 |
| Obleas Vida útil, mes | 12 |
| Tipo de conductividad | PAG |
| dopante | B (boro) |
| Oxígeno máximo, ANTIGUO-PPMA | 40 |
| Carbono, PPMA | 1 |
| La exclusión de la zona del borde, mm. | 3 |
| Orientación cristalográfica | <100> |
| Desviación de la orientación de la superficie desde un plano cristalográfico determinado, grados | 0,5 |
| Resistividad de volumen, Ohm · cm | 10-40 |
| El número de dislocaciones, cm-2. | 0 |
| El número de defectos de grabado puntual, cm-2. | 0 |
| El número de defectos oxidativos puntuales, cm -2. | 500 |
| El contenido máximo de hierro en el volumen, E10AT/CC | 10 |
| Muesca primaria | si |
| Ubicación de la muesca | 110 |
| Tamaño de muesca, mm | 2,3 |
| Forma de muesca | V |
| Espesor de la oblea, micras | 775±25 |
| Tipo de marcado | Láser |
| Ubicación de marcado | parte trasera |
| Perfil de borde | Por SEMI T/4 |
| Arañazos frontales | ausente |
| Cambio total del espesor de la oblea (TTV), micras | 5 |
| Deflexión, micras | 60 |
| Las obleas se oxidan hasta alcanzar un espesor de micras. | 0,1-1 |
| El número de partículas en una superficie mayor de 0,09 micrones. | 50 |
| Contaminación de la parte trasera. | ausente |
| Contenido superficial de aluminio, E10AT/CM2 | 1 |
| Contenido superficial de calcio, E10AT/CM2 | 1 |
| Contenido superficial de cromo, E10AT/CM2 | 1 |
| Contenido superficial de cobre, E10AT/CM2 | 1 |
| Contenido superficial de hierro, E10AT/CM2 | 1 |
| Contenido superficial de potasio, E10AT/CM2 | 1 |
| Contenido superficial de sodio, E10AT/CM2 | 1 |
| Contenido superficial de níquel, E10AT/CM2 | 1 |
| Contenido superficial de zinc, E10AT/CM2 | 1 |
| Requisitos para la precisión de la planitud, micras. | 0,3 |
| La exclusión de la zona del borde al medir la planitud, mm | 3 |
Requisitos de embalaje:
| Parámetro | |
| Tipo de embalaje | MW300GT-A |
| Material del contenedor interior | Polietileno |
| Material de embalaje exterior | Aluminio |
| Número de piezas en un paquete | 25 |
| Reutilizabilidad | si |
2. Métodos de oxidación
La oxidación seca y la oxidación húmeda son los métodos más importantes para cultivar silicio en oblea de óxido.
2.1 Oblea de silicio de oxidación seca
El silicio de oxidación de oxígeno seco reacciona con el oxígeno a una temperatura de 850-1200 ℃, la tasa de crecimiento de óxido térmico de las obleas de silicio es baja pero la calidad es buena, por lo que se puede utilizar para el crecimiento de puertas aisladas MOS. El espesor del óxido de la oblea de silicio es de 10 nm a 300 nm.
2.2 Oblea de oxidación de oxígeno húmedo
A alta temperatura, se utiliza vapor de agua para ingresar al tubo del horno y formar una capa de óxido en la superficie de la oblea de silicio. La densidad de la oxidación con oxígeno húmedo es ligeramente peor que la de la oxidación con oxígeno seco, pero la ventaja de la oxidación con oxígeno húmedo es que tiene una tasa de crecimiento más alta, que es adecuada para el crecimiento de la película por encima de 500 nm. Capacidad de oxidación húmeda: 100 nm ~ 6 um.
Durante el proceso de oxidación de la oblea de silicio, la oblea térmica de óxido de silicio es una excelente capa dieléctrica como aislante. En muchos dispositivos basados en silicio, la capa de óxido térmico juega un papel importante como capa de prevención de dopaje y dieléctrico de superficie.
3. Preguntas frecuentes:
¿Podría comprobar si acepta el embalaje MW300GT-A como se muestra en la imagen adjunta?
- Si, por favor continúa.


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Obleas de silicio monocristalino de 2″ con óxido aislante
Oblea de silicio monocristalino de 2 ″ con óxido térmico de 20 nm
Obleas de silicio monocristalino de 4″ con óxido aislante
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Obleas de silicio monocristalino de 6″ con óxido aislante
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Oblea de óxido de silicio de 2 ″








