PAM XIAMEN propose une taille de bloc de silicium 5x20 mm
Morceaux de Si
Taille: 5x20 mm, épaisseur 1 mm
FZ
R> 5000 ohm.cm
For more information, send us email at sales@powerwaywafer.cometpowerwaymaterial@gmail.com
PAM XIAMEN propose une taille de bloc de silicium 5x20 mm
Morceaux de Si
Taille: 5x20 mm, épaisseur 1 mm
FZ
R> 5000 ohm.cm
For more information, send us email at sales@powerwaywafer.cometpowerwaymaterial@gmail.com
HEMTs evolved from Field Effect Transistors (FETs) are suitable for manufacturing monolithic microwave integrated circuits (MMICs). HEMTs were initially generated to obtain high electron mobility in semiconductor devices at room temperature. The electron mobility of FETs is limited even with high doping levels, so high [...]
PAM-XIAMEN can offer 4” GaAs HEMT epi wafer with 2D electron gas (2DEG) and very high electron mobility of 5-7E5 cm2/V.s, please see below typical wafers of gallium arsenide with HEMT structure: 1. GaAs HEMT Epitaxial Wafer Structures Structure 1: 4″ AlGaAs / GaAs HEMT epi wafer (PAM200416-HEMT): HEMT [...]
A phenomenon commonly encountered in grinding of silicon wafers is the grinding marks, which are difficult to remove by subsequent polishing process, and have been a great obstacle to the manufacture of silicon wafers with higher flatness. In this paper, the grinding marks formation [...]
PAM XIAMEN offers test grade silicon wafers Below is just a short list of the test grade silicon substrates! Inches Cust class Dopant Type Orientation PFL length PFL direction SFL Off orientation Resistivity Diameter Thickness Bow TTV Warp 6 DSP Boron P 100 0,0 ± 0,0 110 ± 0,20 0.0 ± 0.1 ° 1 – 20 Ohmcm 150.0 ± 0.2 mm 675 ± 5 µm 60 3 6 DSP Boron P 100 57,5 ± 2,5 110 ± 0,50 0.0 ± 0.5° 30 – [...]
Silicon carbide (SiC) single crystals are at the forefront of the silicon carbide industry chain, and are the foundation and key to the development of the high-end chip industry. The larger the SiC substrate size, the more chips can be manufactured on per unit substrate, and [...]
The impurity elements in crystalline silicon materials mainly include non-metallic impurities such as carbon, oxygen, boron, and phosphorus, and metal impurity such as iron, aluminum, copper, nickel, and titanium. Metal impurities generally exist in interstitial states, substitution states, complexes or precipitations in crystalline silicon, [...]
Biscuit | Durée | Description |
---|---|---|
cookielawinfo-checkbox-analytics | 11 mois | Ce cookie est défini par le plugin GDPR Cookie Consent. Le cookie est utilisé pour stocker le consentement de l'utilisateur pour les cookies de la catégorie « Analytics ». |
cookielawinfo-checkbox-fonctionnel | 11 mois | Le cookie est défini par le consentement aux cookies du RGPD pour enregistrer le consentement de l'utilisateur pour les cookies de la catégorie « Fonctionnel ». |
cookielawinfo-case à cocher-nécessaire | 11 mois | Ce cookie est défini par le plugin GDPR Cookie Consent. Les cookies sont utilisés pour stocker le consentement de l'utilisateur pour les cookies dans la catégorie « Nécessaire ». |
cookielawinfo-checkbox-autres | 11 mois | Ce cookie est défini par le plugin GDPR Cookie Consent. Le cookie est utilisé pour stocker le consentement de l'utilisateur pour les cookies de la catégorie "Autre". |
cookielawinfo-checkbox-performance | 11 mois | Ce cookie est défini par le plugin GDPR Cookie Consent. Le cookie est utilisé pour stocker le consentement de l'utilisateur pour les cookies de la catégorie « Performance ». |
view_cookie_policy | 11 mois | Le cookie est défini par le plugin GDPR Cookie Consent et est utilisé pour stocker si l'utilisateur a consenti ou non à l'utilisation de cookies. Il ne stocke aucune donnée personnelle. |