Algoritmo di ottimizzazione delle colonie di formiche classificate basata sulla decomposizione per la pianificazione del sistema di fabbricazione del wafer a semiconduttore
È stato sviluppato un sistema di visione basato su modelli per l'ispezione al 100% delle superfici del wafer die. Gli obiettivi di progettazione includevano un requisito per il rilevamento di difetti piccoli fino a duemila millesimi di pollice su parti fino a 8 pollici. Dimensione del wafer. Ogni dado è trattato come una parte del tutto ...