12インチプライムグレードシリコンウェーハ
PAM-XIAMEN offer 300mm bare silicon wafers (12 inch) in prime grade, n type or p type, and the 300mm silicon wafer thickness is 775±15. Compared to other silicon wafer suppliers, Powerway Wafer’s silicon wafer price is more competitive with higher quality. 300mm silicon wafers have a higher yield per wafer than pervious large diameter silicon wafers.
- 説明
製品の説明
PAM-XIAMEN offer 300mm bare silicon wafers (12 inch) in prime grade, n type or p type, and the 300mm silicon wafer thickness is 775±15. Compared to other silicon wafer suppliers, Powerway Wafer’s silicon device wafer price is more competitive with higher quality. 300mm silicon wafers have a higher yield per wafer than pervious large diameter silicon wafers. Size on/above 8 inches (200 mm) is called a large silicon wafer. The production technology of large silicon wafer is not only the increase of process complexity because of the increase of area, but also the higher requirements on many other control factors. For example: oxygen content and its radial uniformity in wafer, impurity control, OISF control, etc. The silicon wafer requirements for defect control, oxygen precipitation control, resistance quantification, doping and radial uniformity are also higher. Especially for prime grade 300mm silicon wafer, some parameters are required critically, for instant, wafer TTV is below1.5um and defect density ~0/cm2. The next step is 450mm silicon ingot or wafer.
1. Parameters of 300mm Silicon Wafer
パラメータ | Value(PAM210512-300-SIL) |
インゴットの種類 | チョクラルスキー法に従って成長 |
直径、mm | 300±0,2 |
ドーパント | B(ボロン) |
導電型 | P |
Oxigen max、OLD-PPMA | 40 |
カーボン、PPMA | 1 |
結晶方位 | <100> |
結晶面の所定の面方位からの偏差、度 | 1 |
体積抵抗率、オーム・cm | 8-12 |
一次ノッチ | はい |
ノッチ位置 | 110 |
ノッチサイズ、mm | 2,3 |
ノッチフォーム | V |
ウェーハ厚、ミクロン | 775±15 |
マーキングの種類 | レーザ |
マーキング場所 | 裏側 |
エッジプロファイル | SEMI T / 4より |
表面の傷 | ありません |
前面研磨 | はい |
裏面研磨 | はい |
ウェーハの厚さの総変化(TTV)、マイクロ | 1,5 |
たわみ(WARP)、ミクロン | 30 |
0.05ミクロンより大きい表面上の粒子の数 | 50 |
0.09ミクロンより大きい表面上の粒子の数 | 30 |
アルミニウムの表面含有量、E10AT / CM2 | 1 |
カルシウムの表面含有量、E10AT / CM2 | 1 |
クロムの表面含有量、E10AT / CM2 | 1 |
銅の表面含有量、E10AT / CM2 | 1 |
鉄の表面含有量、E10AT / CM2 | 1 |
カリウムの表面含有量、E10AT / CM2 | 1 |
ナトリウムの表面含有量、E10AT / CM2 | 1 |
ニッケルの表面含有量、E10AT / CM2 | 1 |
亜鉛の表面含有量、E10AT / CM2 | 1 |
梱包要件:
パラメータ | |
包装の種類 | MW300GT-A |
内容器素材 | ポリエチレン |
外装材 | アルミニウム |
1パッケージの個数 | 25 |
再利用性 | はい |
2. FAQ:
Q: Please take note that we offer “The number of particles on a surface larger than 0.09 microns 50” just for silicon substrate.
通常、粒子要件はシリコン基板です。
コンプライアンスを確保するために、確認していただけますか?
A: 再確認:はい、表示された情報は正しいです。
PAM-XIAMENは、テクノロジーとウェーハサポートを提供します。
詳細については、当社のウェブサイトをご覧ください。https://www.powerwaywafer.com/silicon-wafer,
で、私達に電子メールを送りますsales@powerwaywafer.comとpowerwaymaterial@gmail.com