GaN系テンプレート

PAM-厦門のテンプレート製品(窒化ガリウム)GaNテンプレート、(窒化アルミニウム)の結晶層からなるAlNテンプレート、(窒化アルミニウムガリウム)のAlGaNテンプレートとサファイア上に堆積される(窒化インジウムガリウム)のInGaNテンプレート
  • 説明

製品の説明

GaN系 Template (窒化ガリウム template)

PAM-XIAMEN’s GaN Template consists of crystalline layers of gallium nitride (GaN), aluminum nitride (AlN), aluminum gallium nitride (AlGaN) and indium gallium nitride (InGaN), which are epilayer on sapphire and electronic grade for fabrication as MOS-based devices. PAM-XIAMEN’s Gallium Nitride Template Products enable 20-50% shorter epitaxy cycle times and higher quality epitaxial device layers, with better structural quality and higher thermal conductivity,which can improve devices in the cost, yield, and performance.

2 "(50.8ミリメートル)GaN系テンプレートサファイア基板上のエピタキシー

アイテム PAM-2インチ・ガント-N PAM-2インチ・ガント-SI
伝導型 N型 半絶縁性
ドーパント Siがドープされた又は非ドープ 鉄ドープ
サイズ 2 "(50ミリメートル)DIA。
厚さ 4μmで、20umの、30um、50μmの、100um 30um、90um
方向付け C軸(0001)+/- 1°
抵抗率(300K) <0.05Ω・cmで > 1×106Ω・cmで
転位密度 <1x108cm-2
基板構造 サファイア上のGaN(0001)
表面仕上げ シングルまたはダブルサイドポリッシュ、エピレディ
使用可能エリア ≥90%

サファイア基板上の2 "(50.8ミリメートル)のGaNテンプレートエピタキシー

アイテム PAM-ガント-P
伝導型 P型
ドーパント Mg doped
サイズ 2 "(50ミリメートル)DIA。
厚さ 5um、20umの、30um、50μmの、100um
方向付け C軸(0001)+/- 1°
抵抗率(300K) <1Ω・cm以下またはカスタム
ドーパント濃度 1E17(CM-3)、またはカスタム
基板構造 サファイア上のGaN(0001)
表面仕上げ シングルまたはダブルサイドポリッシュ、エピレディ
使用可能エリア ≥90%

 サファイア基板上の3 "(76.2ミリメートル)のGaNテンプレートエピタキシー

アイテム PAM-3インチ-GANT-N
伝導型 N型
ドーパント Siがドープされた又は非ドープ
除外ゾーン: 外径から5ミリメートル
厚さ: 20umの、30um
転位密度 <1x108cm-2
シート抵抗(300K): <0.05Ω・cmで
基板: サファイア
オリエンテーション : C面
サファイア厚さ: 430um
研磨: シングルサイド、ポリッシュエピレディ、原子ステップを持ちます。
裏面コーティング: (カスタム)高品質のチタンコーティング、厚さ>0.4μmで
パッキング: 個別にアルゴン下で詰め
Atmosphere vacuum sealed in class 100 clean room.

サファイア基板上の3 "(76.2ミリメートル)のGaNテンプレートエピタキシー

アイテム PAM-3インチ・ガント-SI
伝導型 半絶縁性
ドーパント 鉄ドープ
除外ゾーン: 外径から5ミリメートル
厚さ: 20umの、30um、90um(20umのがベストです)
転位密度 <1x108cm-2
シート抵抗(300K): > 106 ohm.cm
基板: サファイア
オリエンテーション : C面
サファイア厚さ: 430um
研磨: シングルサイド、ポリッシュエピレディ、原子ステップを持ちます。
裏面コーティング: (カスタム)高品質のチタンコーティング、厚さ>0.4μmで
パッキング: 個別クラス100のクリーンルーム内に封入されたアルゴン雰囲気の真空下でパック。

4″(100mm)GaN Templates Epitaxial on Sapphire Substrates

アイテム PAM-4インチ・ガント-N
伝導型 N型
ドーパント アンドープ
厚さ: 4μmで
転位密度 <1x108cm-2
シート抵抗(300K): <0.05Ω・cmで
基板: サファイア
オリエンテーション : C面
サファイア厚さ:
研磨: シングルサイド、ポリッシュエピレディ、原子ステップを持ちます。
パッキング: 個別にアルゴン雰囲気下で詰め
クラス100クリーンルーム内で真空シール。

2 "(50.8ミリメートル)のAlGaN、InGaN系、サファイア基板上のAlNエピタキシー:カスタム
2”(50.8mm)AlN Epitaxy on Sapphire Templates

アイテム PAM-AlNT-SI
伝導型 半絶縁性
直径 1ミリメートル±Фの50.8ミリメートル
厚さ: 1000nmの+/- 10%
基板: サファイア
オリエンテーション : C軸(0001)+/- 1°
オリエンテーションフラット 飛行機
XRD FWHM(0002) <200秒角。
使用可能な表面積 ≥90%
研磨: なし

2” (50.8ミリメートル)サファイア基板上のInGaNエピタキシー

アイテム PAM-InGaN系
伝導型
直径 1ミリメートル±Фの50.8ミリメートル
厚さ: 100-200nm、カスタム
基板: サファイア
オリエンテーション : C軸(0001)+/- 1O
ドーパント
転位密度 〜108センチメートル-2
使用可能な表面積 ≥90%
表面仕上げ シングルまたはダブルサイドポリッシュ、エピレディ

2” (50.8ミリメートル)サファイア基板上のAlGaNエピタキシー

アイテム PAM-AlNT-SI
伝導型 半絶縁性
直径 1ミリメートル±Фの50.8ミリメートル
厚さ: 1000nmの+/- 10%
基板: サファイア
オリエンテーション : C面
オリエンテーションフラット 飛行機
XRD FWHM(0002) <200秒角。
使用可能な表面積 ≥90%
研磨: なし

GaN Template on Sapphire& Silicon

4H又は6H SiC基板上に2」(50.8ミリメートル)のGaN

1)アンドープGaNバッファまたはAlNバッファが利用可能です。
2)は、n型シリコン(Siドープ又はアンドープ)、p型または半絶縁性GaNエピタキシャル層を利用できます。
3)n型SiC上の垂直導電構造。
4)のAlGaN - 厚さ20-60nm、(20%-30%のAl)、Siはバッファをドープしました。
330μm+/- 25um厚の2” ウエハ上5)n型GaN層。
6)シングルまたはダブルサイド研磨、エピレディ、Raが<0.5μmで
XRDに7)の典型的な値:
ウェハID 基板ID XRD(102) XRD(002) 厚さ
#2153 X-70105033(AlNの付き) 298 167 679um
         
 Single or double side polished, epi-ready, Ra<0.5um

GaN on SiC Substrate

6」(150ミリメートル)のn-GaN上 両面研磨 フラットサファイア

ターゲット リマーク  
基板直径 150ミリメートル +/- 0.15ミリメートル
基板の厚さ 1300 UMまたは1000um +/- 25ええと
c面(0001)、m面に向かってオフカット角度 0.2度 +/- 0.1度
Single primary flat length 47.5 mm +/- 1 mm
Flat orientation a-plane +/- 0.2 deg
Si-doped n-GaN thickness 4 um +/- 5%
Si concentration in n-GaN 5e18 cm-3 はい
u-GaN thickness 1 um no this layer
XRD rocking curve (002) < 250 arcsec <300 arcsec
XRD rocking curve (102) < 250 arcsec <350 arcsec
転位密度 < 5e8 cm-2 はい
Front side surface, AFM (5×5 um2) Ra < 0.5 nm, Epi-ready はい
Back side surfac\e 0.6 – 1.2 um, fine ground はい
Wafer bowing < 100 um no this data
n-GaN resistivity (300K) < 0.01 ohm-cm2 はい
総厚さの変化 < 25 um <10um
Defect density Macro defects (>100 um):< 1/wafer  Micro defects (1-100 um):< 1/cm2 Macro defects (>100 um):< 10/wafer Micro defects (1-100 um):< 10/cm2
レーザーマーキング on the backside of the wafer flat はい
パッケージ packaged in a class 100 clean room environment, in cassettes of 25 pcs or single wafer containers, under nitrogen atmosphere, double sealed はい
エッジ除外 < 3 mm はい
Useable surface area > 90% はい

Hydride Vapour Phase Epitaxy (HVPE) process

GaN template on sapphire is grown by HVPE process and technology for the production of compound semiconductors such as GaN, AlN, and AlGaN. GaN templates are used in a wide applications: nanowire growth, solid state lighting, short wavelength optoelectronics and RF power device.

In the HVPE process, Group III nitrides (such as GaN, AlN) are formed by reacting hot gaseous metal chlorides (such as GaCl or AlCl) with ammonia gas (NH3). The metal chlorides are generated by passing hot HCl gas over the hot Group III metals. All reactions are done in a temperature controlled quartz furnace.

ここでは、例の下を参照してください、テストレポートを提供します:

AlGaNテンプレート構造レポート

FWHMとXRDレポート

More products:

サファイア(Al2O3)テンプレート上のGaN薄膜

AlN Single Crystal Substrate& Template on Sapphire/Silicon

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