GAASまたはINP WAFERSでエピタキシンにingaasn
長波長のinmaasn Quantum Wellレーザーに基づいてGaAs基板最も有望な開発方向の1つです。 INGAASNレーザー構造は、通常、分子ビームエピタキシー(MBE)または金属有機蒸気堆積(MOCVD)によって成長します。インガナス材料は、GAASまたはINPウェーハで成長できる長波長垂直キャビティレーザーの有望な材料です。 Pam-Xiamenが提供しますGAASエピタキシャルウェーハ次のようにingaasnエピライヤーを使用してください:

1. GAAS基質上のingaasnエピライヤーの仕様
| 層 | ドーピング | 厚さ (μm) | リマーク | |||
| GaAsの | アンドープ | 〜500 | <001>ウェーハ基板 | |||
| ingaasn* | アンドープ | 0.150 | バンドギャップ<1 ev | |||
| al(0.3)ga(0.7)as | アンドープ | 0.5 | ||||
| GaAsの | アンドープ | 2 | ||||
| al(0.3)ga(0.7)as | アンドープ | 0.5 | ||||
出典:PAM-アモイ
2。INGAASN資料について
重要なIII-V半導体材料として、GAASは光電子/太陽光発電デバイスの研究と準備に広く使用されています。異なる光電子特性を持つ半導体化合物を取得するために、マトリックス要素と同様の特性を持つ同じ原子のグループをGAASに溶解して、材料のエネルギーバンドの調整を実現できます。 INGAASNは、GAASマトリックス内のIN要素の固形溶液によって得られます。
GAAS基板で栽培されているIngaasnフィルムには、亜鉛ブレンド構造があり、この第四紀Ingaasn合金は、非常に広い発光波長カバレッジ(0.8EV-1.4EV)を備えた直接バンドギャップ半導体です。 Inとnドーピングのみとは異なり、Inとn原子が同時にGAASマトリックスにドープされると、エネルギー帯域幅の変化は、に示すようにユニークな傾向を示します。下図。明らかな特徴は、N濃度の増加とともに、インガナスシステムの禁止されたバンド幅が急速に減少することです。 GAASと比較して、インガナ材料の伝導帯オフセットはより大きいため、電子閉じ込め能力が強く、材料の温度安定性が向上します。

図帯域とn原子がGAASにドープしたときのバンドギャップvs.格子間隔
新しい合金システムとして、INGAASN半導体合金には、2%の窒素が30%以上でバンドギャップを減らすことができるという明らかな特徴があります。さらに、インガナの最も顕著な特徴は、Nの組成を調整し、GAAS基質の格子を一致させながら、独自のバンドギャップ幅を広範囲に調整できることです。
3。GAAS上のインガナスのエピタキシーを成長させた研究(001)
MBEを使用して、GAAS(001)基質上で希釈窒素化合物を成長させます。 AS/IIビーム比が20の場合、フィルムのクリスタル品質が優れており、フィルムの表面が比較的平らであることがわかりました。
フィルムの成長に対する成長温度の影響を研究することにより、結晶構造、表面、および界面条件の変化を分析しました。 INは、低温でNとの絆が簡単であり、高温でASと簡単に接着できることがわかっています。結合するこの傾向は、インガースンの結晶構造とフィルムの表面/界面の形態の変化につながり、成長に適した温度が440℃であると結論付けられます。その上、私たちはインガースン薄膜の成長に対する成長率の影響を研究し、成長速度が速いほど、結晶の品質が良くなり、表面がよりスムーズになることがわかりました。
希釈窒素化合物の高エネルギーギャップ調整能力を考慮すると、それらは、長波長レーザー(INGAASN VCSELなど)、近赤外検出器、薄膜太陽電池の調製に非常に適しています。
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