テストプロジェクト: 厚さ ウェーハの厚さの均一性と公差は、ウェーハごとおよび出荷ごとに測定されます。 試験装置:厚さ測定器 試験規格:試験結果:150um~1.5mm
2018-08-07メタ著者
テストプロジェクト: TTV/WARP/BOW: ウェーハの平坦度は TTV/WARP/BOW によって測定され、値が低いほどウェーハの平坦度が優れていることを示し、エピウェーハの品質とウェーハの平坦度はより優れているため、その測定が必要です。 試験装置: 偏光顕微鏡 試験規格: GB/T 30867-2014;GB/T 6620-2009。 試験結果:μm(ミクロン)
2018-08-07メタ著者
テスト プロジェクト: 表面粗さ 表面粗さは通常、ラフネスと短縮され、表面テクスチャの構成要素です。 これは、実際の表面の法線ベクトル方向の理想的な形状からの偏差によって定量化されます。 これらの偏差が大きい場合、表面は [...]
2018-08-07メタ著者
テストプロジェクト: 抵抗率 抵抗率 (抵抗率、比抵抗、体積抵抗率とも呼ばれる) は、電流に対する特定の材料の強度を定量化する基本特性です。 抵抗率が低いということは、電流が流れやすい材料であることを示します。 抵抗率は通常 [...] で表記されます。
2018-08-07メタ著者
テストプロジェクト: 型 電子供与体原子がドープされた非真性半導体は、結晶内の電荷キャリアのほとんどが負の電子であるため、n 型半導体と呼ばれます。 電子アクセプタードーパントは、格子から電子を受け取り、電子が存在する空の空間を生成する原子です。
2018-08-07メタ著者
テスト プロジェクト: マイクロパイプ密度 マイクロパイプは、単結晶基板内の結晶欠陥です。 現在では、車載用パワー半導体デバイスや高周波通信デバイスなど、さまざまな産業で使用されるSiC基板に広く使用されています。 ただし、これらの材料の製造中に、[...]
2018-08-07メタ著者