XRD測定では、ゼロ回折SIウェーハ直径32mm

XRD測定では、ゼロ回折SIウェーハ直径32mm

PAM Xiamenは、XRD測定にゼロ回折SIウェーハ直径32mmを提供します

ゼロ回折プレート32 mm DIA。 x厚さ2.0 mm
以下の仕様を備えたXRDサンプル用のSiクリスタル
抵抗>1Ωcm
サイズ:直径32 mm x厚さ2.0 mm
表面:ダブルサイド光磨かれた
ゼロ回折プレートは、特別な向きでシリコンカットで作られています
空洞はありません
タイプと抵抗率はピークに影響しません、ピークは方向に依存します

詳細については、にメールを送信してください[email protected][email protected]


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