1. 칩에 AlGaInP 웨이퍼의 사양
매개 변수 | 조건 | 최소. | 일반. | 최대. | 단위 |
순방향 전압 (VF1) | = 10μA의 경우 | 1.35 | ﹎ | ﹎ | V |
순방향 전압 (VF2) | = 20mA하는 경우 | ﹎ | ﹎ | 2.2 | V |
역 전압 (LR) | VR = 10V | ﹎ | ﹎ | 2 | μA |
주 파장 (λd) | = 20mA하는 경우 | 565 | ﹎ | 575 | 나노 |
FWHM (Δλ) | = 20mA하는 경우 | ﹎ | 10 | ﹎ | 나노 |
코드 | LC | LD | LE | LF | LG | LH | LI |
IV (MCD) | 20-30 | 25-35 | 30-35 | 35-50 | 40-60 | 50-70 | 60-80 |
2. GaAs 기판에 변형된 AlGaInP의 밴드 갭
III-V족 화합물 반도체 및 그 합금에 대한 대역 매개변수
I. Vurgaftman, JR Meyer, LR Ram-Mohan
J. Appl. 물리. 89(11), 5815(2001)
1) ALP | 인장 스트레인 | 갈륨 비소에 대해서 |
2)의 GaP | 인장 스트레인 | 갈륨 비소에 대해서 |
3)의 InP | 긴장 압축 적 | 갈륨 비소에 대해서 |
4)AlxGa1-xP | 인장 스트레인 | 갈륨 비소에 대해서 |
5)GaxIn1-xP | 팽팽한 | 갈륨 비소에 대해서 |
6)AlxIn1-xP | 팽팽한 | 갈륨 비소에 대해서 |
7)Al0.4Ga0.6P | 인장 스트레인 | 갈륨 비소에 대해서 |
8)Ga0.4In0.6P | 긴장 압축 적 | 갈륨 비소에 대해서 |
9)Al0.4In0.6P | 긴장 압축 적 | 갈륨 비소에 대해서 |
각 재료 층은 시뮬레이션에서 10 nm의 길이를 갖는다. | ||
상기 물질 층 (4)), 5), 6)은 직선의 합금 함량을 변화 : | ||
4) x=0.0에서 x=1.0까지 10 nm에서 20 nm까지 AlxGa1-xP | ||
5) x=0.0에서 x=1.0까지 30nm에서 40nm까지 GaxIn1-xP | ||
6) x=1.0에서 x=0.0까지 50nm에서 60nm까지 AlxIn1-xP |
3. AlGaInP/InGaP 구조 정보
InGaAlP 4차 재료는 직접 밴드갭이 넓을 수 있기 때문에 In, Al, Ga의 조성을 조절하여 고품질 및 저가의 GaAs 박막과 격자 정합할 수 있다. 에피택시 구조의 발광 범위는 빨강, 주황, 노랑, 황록색 밴드를 덮을 수 있습니다. 따라서 가시 광선 발광 다이오드에서 650nm 적색 레이저는 광범위한 응용 분야를 가지고 있습니다.
AlGaInP 4차 화합물 재료는 고휘도 적색 발광 다이오드 및 반도체 레이저에 널리 사용되며 적색 발광 소자의 주류 재료가 된 GaAs 에피택시 웨이퍼를 성장시키는 데 사용됩니다. AlGaInP/GaInP 이종접합의 전도대 차수는 매우 작아서 최대값이 약 270meV로 350meV AlGaAs 재료보다 작습니다. 전자 장벽이 상대적으로 낮고 누설 전류가 형성됩니다. 레이저 기반 GaAs 에피택시 웨이퍼의 임계값 전류가 증가하며, 이는 고온 및 고전류 작동에서 더 분명합니다. AlGaInP 층은 합금에 산란되며 열 저항은 AlGaAs보다 훨씬 높습니다. 과도한 열은 접합부 온도와 캐비티 표면 온도를 유발합니다. 따라서 AlGaInP 레이저의 특성 온도가 낮아지고 연속 동작 시 전기광학 변환 효율이 낮아지고 더 많은 열이 발생한다.
4. AlGaInP의 굴절률
출처 : PAM-XIAMEN
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