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2″ SiC 웨이퍼에서 성장한 그래핀 층의 두께 분포 결정

하이라이트 •SiC에서 성장한 그래핀의 두께는 AES 깊이 프로파일링을 통해 결정되었습니다. •AES 깊이 프로파일링을 통해 SiC에 버퍼층이 있는지 확인했습니다. •버퍼층에 불포화 Si 결합이 존재하는 것으로 나타났습니다. • 다점 분석을 사용하여 웨이퍼 상의 그래핀 두께 분포를 결정했습니다. 오거 전자 분광법...

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