GaN HEMT Epitaxial Wafer
Gallium Nitride (GAN) HEMTS (transistor mobiliti elektron tinggi) adalah generasi teknologi transistor kuasa RF yang akan datang. Terima kasih kepada Teknologi GAN, Pam-Xiamen kini menawarkan Algan/Gan Hemt Epi Wafer pada Sapphire atau Silicon, dan Algan/Gan pada Templat Sapphire.
- Description
Penerangan
Gan Hemt Epitaxial Wafer adalah filem multilayer yang ditanam epitaxially pada substrat, yang biasanya termasuk lapisan nukleasi, lapisan peralihan, lapisan penampan, lapisan saluran, lapisan penghalang, lapisan topi, dan lapisan passivasi dari bawah ke atas. Lapisan nukleasi, seperti Algan atau Aln, digunakan untuk mencegah bahan substrat dari meresap ke lapisan epitaxial GAN. Lapisan peralihan mungkin mengandungi algan hierarki, aln/gaN superlattice atau multilayer ALN untuk mengimbangi tekanan antara GAN dan substrat. Semakin tinggi kandungan AL dalam lapisan penghalang Algan, semakin tinggi kepekatan 2DEG pada heterojunction. Sementara itu, semakin rendah voltan ambang peranti, dan semakin tinggi kapasiti semasa. Apabila nisbah AL meningkat, tahap ketidakcocokan kekisi kristal heterogen akan lebih tinggi, mengakibatkan penurunan mobiliti elektron hemt nitrida dan penurunan kapasiti semasa.
Transistor mobiliti elektron yang tinggi (HEMT) dibangunkan berdasarkan GAN dengan heterostruktur yang unik dan gas elektron dua dimensi. Kelebihan GaN Hemt termasuk kekuatan pecahan yang tinggi, rintangan yang rendah dan lebih cepat kelajuan beralih, yang sangat sesuai untuk voltan sederhana dan rendah dan sederhana dan kecil sistem kuasa, seperti penyesuai perjalanan, pengecas tanpa wayar, penukar ac-dc, peralatan rumah pintar, dan sebagainya. Teknologi Gallium Nitride Hemt Epi, harga peranti Gan Hemt akan bersaing, yang boleh mendapat pasaran Gan Hemt yang besar untuk pengeluar Gan Hemt. Selain itu, disebabkan kebolehpercayaan hemt nitrida gallium, ia boleh digunakan secara meluas dalam bidang perindustrian, seperti penyongsang fotovoltaik, sistem penyimpanan tenaga, dan kenderaan elektrik.
1. Gan Hemt Bahan: Saiz Tersedia: 2 ", 4", 6 ", 8":
Parameter yang lebih spesifik Gallium Nitride Hemt Wafer untuk D-Mode GaN HEMTS, E-Mode GaN Hemts, GaN Hemt Power Amplifier dan RF, sila rujuk:
GaN pada Si untuk Kuasa, mod D
GaN pada Si untuk Kuasa, E-mod
Kami pakar dalam struktur HEMT, kami juga menawarkan wafer Gan Hemt Epi selama bertahun -tahun.
Untuk substrat silikon, kita perlu tahu jika anda menanam gan hemt pada silikon untuk kuasa atau RF, ia berbeza. Sekiranya diperlukan, sila hubungi[email protected]untuk butiran.
Bagi SIC, anda harus menggunakan separuh penebat.
Atau anda boleh membeli struktur Algan/Gan Hemt pada ketiga -tiga struktur ini dari kami.
2. Sekarang kami menunjukkan contoh seperti berikut:
2.1 2 "(50.8mm) gan hemt epitaxial wafer
Kami menawarkan 2 "(50.8mm) Gallium Nitride Hemt wafer, struktur gan hemt adalah seperti berikut:
Struktur (dari atas ke bawah):
*Cap Gan Undoped (2 ~ 3nm)
Alxga1-xn (18 ~ 40nm)
ALN (lapisan penampan)
gan un-doped (2 ~ 3um)
Substrat nilam
* Kita boleh menggunakan SI3N untuk menggantikan GAN di bahagian atas, lekatannya kuat, ia disalut oleh Sputter atau PECVD.
2.2 Algan/Gan Hemt Epi Wafer di Sapphire/Gan
| Layer # | Komposisi | ketebalan | X | Dopant | Kepekatan pembawa |
| 5 | Gan | 2nm | - | - | - |
| 4 | AlxGa1–xN | 8nm | 0.26 | - | - |
| 3 | AlN | 1nm | Un-didopkan | ||
| 2 | Gan | ≥1000 nm | Un-didopkan | ||
| 1 | Lapisan penampan/peralihan | - | - | ||
| substrat | Silicon | 350μm / 625μm | - | ||
2.3 2 "(50.8mm), 4" (100mm) Algan/Gan Hemt Epi Wafer pada Si
2.3.1 Spesifikasi untuk Aluminium Gallium Nitride (Algan) / Gallium Nitride (Gan) Transistor Mobiliti Elektron Tinggi (HEMT) pada substrat silikon.
| Keperluan | Spesifikasi |
| Algan/gan hemt epi wafer pada Si | |
| Struktur Algan/Gan Hemt | rujuk 1.2 |
| Bahan Substrat | Silicon |
| Orientasi | <111> |
| Kaedah pertumbuhan | terapung Zon |
| Jenis Pengaliran | P atau N |
| Saiz (inci) | 2 ", 4" |
| Ketebalan (μm) | 625 |
| Bahagian belakang | kasar |
| Resistivity (Ω-cm) | > 6000 |
| Bow (mikron) | ≤ ± 35 |
2.3.2 Struktur EPI: Epilayers tanpa retak
| Layer # | Komposisi | ketebalan | X | Dopant | Kepekatan pembawa |
| 5 | Gan | 2nm | - | - | - |
| 4 | AlxGa1–xN | 8nm | 0.26 | - | - |
| 3 | AlN | 1nm | Un-didopkan | ||
| 2 | Gan | ≥1000 nm | Un-didopkan | ||
| 1 | Lapisan penampan/peralihan | - | - | ||
| substrat | Silicon | 350μm / 625μm | - | ||
2.3.3 Sifat Elektrik Struktur Algan/Gan Hemt
Mobiliti 2Deg (pada 300 K): ≥1,800 cm2/vs
Ketumpatan pembawa lembaran 2deg (pada 300 K): ≥0.9 × 1013 cm-2
Kekasaran RMS (AFM): ≤ 0.5 nm (5.0 μm × 5.0 μm imbasan)
2.4 2 "(50.8mm) Algan/Gan di Sapphire
Untuk spesifikasi Algan/GAN pada Templat Sapphire, sila hubungi jabatan jualan kami: [email protected].
Aplikasi GaN HEMT:Digunakan dalam diod laser biru, LED ultraviolet (turun hingga 250 nm), dan peranti Algan/GaN HEMTS.
3. Penjelasan Algan/Al/Gan Hemts:
Nitride HEMTS sedang dibangunkan secara intensif untuk elektronik berkuasa tinggi dalam penguatan frekuensi tinggi dan aplikasi pensuisan kuasa. Selalunya prestasi tinggi dalam operasi DC hilang apabila HEMT dihidupkan-contohnya, semasa semasa runtuh apabila isyarat pintu berdenyut. Adalah difikirkan bahawa kesan sedemikian berkaitan dengan caj perangkap yang topeng kesan pintu pada aliran semasa. Plat lapangan pada sumber dan elektrod pintu telah digunakan untuk memanipulasi medan elektrik dalam peranti, mengurangkan fenomena keruntuhan semasa.
4. Gan EpitaxialTechnology - Epitaxy GaN yang disesuaikan pada substrat SIC, SI dan Sapphire untuk HEMTS, LED:
Wafer Epitaxial Gan Hemt (Gan Epi-wafer)
Pam Xiamen menawarkan pertumbuhan epitaxial algan/gan berdasarkan HEMT pada wafer SI
5. Peranti GaN:
Gan HEMT
6. Peralatan pencirian ujian:
Rintangan lembaran tanpa sentuh
Pemetaan Ketebalan Filem Laser Tipis
Tempatan tinggi/kelembapan yang tinggi Bias terbalik
Kejutan terma
Mikroskop DIC Nomarski
Mikroskop daya atom (AFM)
Imbasan kecacatan permukaan
Bias terbalik temp tinggi
Rintangan lembaran 4pp
Mobiliti Dewan Tanpa Hubungan
Kitaran suhu
X-ray difraksi (XRD)/Refleksi (XRR)
Ketebalan ellipsometer
Profilometer
CV Tester
7. Fabrikasi Faundri:
kami juga menawarkan faundriGaN HEMTFabrikasi dalam proses berikut seperti berikut:
Epitaxy MOCVD
Metal Sputtering/E-Beam
Etch logam kering/basah/dielektrik
Filem nipis pecvd/lpcvd/sputtering
RTA/Relau Annealing
Fotolitografi (0.35um min. CD)
Implantasi ion
Catatan:
Kerajaan China telah mengumumkan had baharu untuk pengeksportan bahan Gallium (seperti GaAs, GaN, Ga2O3, GaP, InGaAs dan GaSb) dan bahan Germanium yang digunakan untuk membuat cip semikonduktor. Mulai 1 Ogos 2023, mengeksport bahan ini hanya dibenarkan jika kami mendapat lesen daripada Kementerian Perdagangan China. Harap untuk pemahaman dan kerjasama anda!
Lebih banyak perkhidmatan fabrikasi, sila lawati:Perkhidmatan Fabrikasi GAN untuk Peranti HEMT
Aluminium gallium arsenide epi wafer
Cip 650v gan fets untuk caj pantas
Struktur MOSFET GaN:
Struktur MOSFET GAN pada substrat SIC
Lebih banyak mengenai struktur gan hemt, sila baca:

