Freestanding Gan substrat
PAM-XIAMEN telah menubuhkan teknologi pembuatan untuk berdiri sendiri (galium nitrida) wafer Gan substrat, yang adalah untuk UHB-LED dan LD. Berkembang dengan teknologi hidrida fasa wap epitaxy (HVPE), substrat Gan kami mempunyai ketumpatan kecacatan rendah.
- Penerangan
Penerangan Produk
Freestanding Gan substrat
PAM-XIAMEN telah menubuhkan teknologi pembuatan untuk berdiri sendiri (Gallium Nitride)GaN substrate wafer which is for UHB-LED and LD. Grown by hydride vapour phase epitaxy (HVPE) technology,Our Gan substratmempunyai ketumpatan kecacatan rendah dan kurang atau ketumpatan kecacatan makro percuma.
Spesifikasi Freestanding Gan substrat
Di sini menunjukkan spesifikasi terperinci:
4″ N type Si doped GaN(Gallium Nitride) Free-standing Substrate
Perkara | PAM-FS-GaN100-N+ |
Jenis pengaliran | N type/Si doped |
Saiz | 4″(100)+/-1mm |
ketebalan | 480+/-50 |
orientasi | C-paksi (0001) +/- 0.5o |
Lokasi Flat utama | (10-10)+/-0.5o |
Negara Flat utama | 32+/-1mm |
Menengah Flat Lokasi | (1-210)+/-3o |
Menengah Flat Negara | 16 +/- 1mm |
Kerintangan (300K) | <0.05Ω·cm |
kehelan Ketumpatan | <5x106cm-2 |
FWHM | <=100arc.sec |
TTV | <=30um |
BOW | <=+/-30um |
kemasan permukaan | Front Surface:Ra<=0.3nm.Epi-ready polished |
— | Kembali permukaan: 1.Fine tanah |
— | 2.Polished. |
Kawasan yang boleh digunakan | ≥ 90 % |
4″ N type Undoped GaN(Gallium Nitride) Free-standing Substrate
Perkara | PAM-FS-GaN100-N- |
Jenis pengaliran | N type/undoped |
Saiz | 4″(100)+/-1mm |
ketebalan | 480+/-50 |
orientasi | C-paksi (0001) +/- 0.5o |
Lokasi Flat utama | (10-10)+/-0.5o |
Negara Flat utama | 32+/-1mm |
Menengah Flat Lokasi | (1-210)+/-3o |
Menengah Flat Negara | 16 +/- 1mm |
Kerintangan (300K) | <0.5Ω · cm |
kehelan Ketumpatan | <5x106cm-2 |
FWHM | <=100arc.sec |
TTV | <=30um |
BOW | <=+/-30um |
kemasan permukaan | Front Surface:Ra<=0.3nm.Epi-ready polished |
— | Kembali permukaan: 1.Fine tanah |
— | 2.Polished. |
Kawasan yang boleh digunakan | ≥ 90 % |
4″ Semi-Insulating GaN(Gallium Nitride) Free-standing Substrate
Perkara | PAM-FS-GaN100-SI |
Jenis pengaliran | Semi-Insulating |
Saiz | 4″(100)+/-1mm |
ketebalan | 480+/-50 |
orientasi | C-paksi (0001) +/- 0.5o |
Lokasi Flat utama | (10-10)+/-0.5o |
Negara Flat utama | 32+/-1mm |
Menengah Flat Lokasi | (1-210)+/-3o |
Menengah Flat Negara | 16 +/- 1mm |
Kerintangan (300K) | >10^6Ω·cm |
kehelan Ketumpatan | <5x106cm-2 |
FWHM | <=100arc.sec |
TTV | <=30um |
BOW | <=+/-30um |
kemasan permukaan | Front Surface:Ra<=0.3nm.Epi-ready polished |
— | Kembali permukaan: 1.Fine tanah |
— | 2.Polished. |
Kawasan yang boleh digunakan | ≥ 90 % |
2 "(50.8mm)Berdiri bebas(galium nitrida)Gansubstrat
Perkara | PAM-FS-GaN50-N | PAM-FS-GaN50-SI |
Jenis pengaliran | N-jenis | Semi-penebat |
Saiz | 2 "(50.8) +/- 1mm | |
ketebalan | 330-450um | |
orientasi | C-paksi (0001) +/- 0.5 ° | |
Lokasi Flat utama | (1-100) +/- 0.5 ° | |
Negara Flat utama | 16 +/- 1mm | |
Menengah Flat Lokasi | (11-20) +/- 3 ° | |
Menengah Flat Negara | 8 +/- 1mm | |
Kerintangan (300K) | <0.5Ω · cm | > 106Ω · cm |
kehelan Ketumpatan | <5x106cm-2 | |
Marco kecacatan Ketumpatan | gred A <= 2cm-2 B gred> 2cm-2 | |
TTV | <= 15um | |
BOW | <= 20um | |
kemasan permukaan | Surface Front: Ra <0.2nm.Epi sedia digilap | |
Kembali permukaan: 1.Fine tanah | ||
2.Rough dikisar | ||
Kawasan yang boleh digunakan | ≥ 90% |
1.5 "(38.1mm)Berdiri bebasGan Substrat
Perkara | PAM-FS-GaN38-N | PAM-FS-GaN38-SI |
Jenis pengaliran | N-jenis | Semi-penebat |
Saiz | 1.5 "(38.1) +/- 0.5mm | |
ketebalan | 330-450um | |
orientasi | C-paksi (0001) +/- 0.5o | |
Lokasi Flat utama | (1-100) +/- 0.5o | |
Negara Flat utama | 12 +/- 1mm | |
Menengah Flat Lokasi | (11-20) +/- 3o | |
Menengah Flat Negara | 6 +/- 1mm | |
Kerintangan (300K) | <0.5Ω · cm | > 106Ω · cm |
kehelan Ketumpatan | <5x106cm-2 | |
Marco kecacatan Ketumpatan | gred A <= 2cm-2 B gred> 2cm-2 | |
TTV | <= 15um | |
BOW | <= 20um | |
kemasan permukaan | Surface Front: Ra <0.2nm.Epi sedia digilap | |
Kembali permukaan: 1.Fine tanah | ||
2.Rough dikisar | ||
Kawasan yang boleh digunakan | ≥ 90% |
15mm, 10mm, 5mmBerdiri bebasGan Substrat
Perkara | PAM-FS-GaN15-N | PAM-FS-GaN15-SI | |
PAM-FS-GaN10-N | PAM-FS-GaN10-SI | ||
PAM-FS-GaN5-N | PAM-FS-GaN5-SI | ||
Jenis pengaliran | N-jenis | Semi-penebat | |
Saiz | 14.0mm*15mm 10.0mm*10.5mm 5.0*5.5mm | ||
ketebalan | 330-450um | ||
orientasi | C-paksi (0001) +/- 0.5o | ||
Lokasi Flat utama | |||
Negara Flat utama | |||
Menengah Flat Lokasi | |||
Menengah Flat Negara | |||
Kerintangan (300K) | <0.5Ω · cm | > 106Ω · cm | |
kehelan Ketumpatan | <5x106cm-2 | ||
Marco kecacatan Ketumpatan | 0cm-2 | ||
TTV | <= 15um | ||
BOW | <= 20um | ||
kemasan permukaan | Surface Front: Ra <0.2nm.Epi sedia digilap | ||
Kembali permukaan: 1.Fine tanah | |||
2.Rough dikisar | |||
Kawasan yang boleh digunakan | ≥ 90% |
Nota:
Pengesahan Wafer:Memandangkan kemudahan penggunaan, PAM-XIAMEN menawarkan 2 "Sapphire Pengesahan wafer untuk di bawah 2" size Freestanding Gan Substrat
Pemakaian Gan Substrat
Pepejal Lighting Negeri: peranti Gan digunakan sebagai ultra cahaya kecerahan tinggi pemancar cahaya (LED), televisyen, kereta, dan pencahayaan umum
DVD penyimpanan: diod laser biru
Kuasa peranti: peranti Gan digunakan sebagai pelbagai komponen dalam berkuasa tinggi dan kuasa frekuensi tinggi elektronik seperti stesen selular asas, satelit, penguat kuasa, dan penyongsang / penukar untuk kenderaan elektrik (EV) dan kenderaan elektrik hibrid (HEV). sensitiviti yang rendah Gan kepada sinaran mengion (seperti kumpulan yang lain III nitrida) menjadikannya bahan yang sesuai untuk aplikasi spaceborne seperti tatasusunan sel solar untuk satelit dan yang berkuasa tinggi, peranti frekuensi tinggi untuk komunikasi, satelit cuaca, dan pengawasan
Sesuai untuk III-Nitrida pertumbuhan semula
Stesen Pangkalan Wireless: transistor kuasa RF
Akses Jalur Lebar Wayarles: MMICs frekuensi tinggi, RF-Circuits MMICs
Sensor tekanan: MEMS
Sensor haba: Pengesan Pyro-elektrik
Power Udara: isyarat bercampur Gan / Integrasi Si
Elektronik Automotif: elektronik suhu tinggi
Lines Power Transmission: elektronik voltan tinggi
Sensor rangka: Pengesan UV
Sel solar: jurang jalur lebar Gan meliputi spektrum solar dari 0.65 eV kepada 3.4 eV (yang boleh dikatakan keseluruhan spektrum solar), menjadikan indium galium nitrida
(InGaN) aloi sesuai untuk mewujudkan bahan sel solar. Kerana kelebihan ini, sel-sel solar InGaN ditanam di atas substrat Gan bersedia untuk menjadi salah satu aplikasi baru yang paling penting dan pasaran pertumbuhan Gan wafer substrat.
Sesuai untuk HEMTs, FET