Tag - fail inp

InP-DHBT tiga dimensi pada penyepaduan SiGe-BiCMOS melalui ikatan wafer berasaskan Benzocyclobutene untuk litar gelombang MM

Sorotan •Skim fabrikasi untuk litar Si-ke-InP heterogen pada tahap wafer diterangkan. •Ketepatan penjajaran wafer-ke-wafer lebih baik daripada 4–8 μm selepas ikatan diperolehi. •Saling bersambung dengan prestasi cemerlang sehingga 220 GHz ditunjukkan. •Penghalang paladium diperlukan apabila menggabungkan teknologi berasaskan Al dengan teknologi berasaskan emas. Abstrak Untuk mendapat manfaat daripada sifat material kedua-dua teknologi InP-HBT dan SiGe-BiCMOS, kami...

Dapatkan ciri dan tindak balas nadi optik femto-saat bagi QD-SOA berbilang tindanan jalur 1550 nm yang ditanam pada substrat InP(311)B

Dapatkan ciri-ciri dan tindak balas nadi optik femto-saat bagi QD-SOA bertindan 1550 nm-jalur yang ditanam pada substrat InP(311)B Dalam kertas kerja ini, kami menunjukkan QD-SOA bertindan 155 nm-jalur berbilang yang ditanam melalui teknik pampasan terikan pada substrat InP(311)B, dan menilai tindak balas fem kepada ciri-ciri ultrafasa optik untuk penggunaan ultrafas nadi. semua-optik...

telah ditambahkan pada troli anda.
Checkout