Tag - Silicon Wafer

Silikon wafer penuh ikatan dengan atom lapisan didepositkan titanium dioksida dan oksida aluminium filem perantaraan

Silikon wafer penuh ikatan dengan atom lapisan didepositkan titanium dioksida dan oksida aluminium filem perantaraan silikon-on-penebat (SOI) wafer dibuat oleh ikatan wafer terus digunakan secara meluas sebagai bermula substrat untuk sistem mikroelektromekanik (MEMS) fabrikasi. Menambah satu lagi lapisan bersebelahan dengan SiO2 SOI, atau menggantikannya dengan bahan lain, akan menjadi cara yang [...]

Pencirian Advanced Sel Silicon Wafer Solar

pencirian Advanced abstrak memainkan peranan yang penting untuk peningkatan seterusnya keberkesanan kos ($ / Wp) sel solar. Kertas kerja ini membentangkan gambaran keseluruhan teknik-teknik pencirian maju yang buat masa ini digunakan untuk analisis sel-sel solar wafer silikon, sama ada di dalam makmal atau di kilang-kilang. Teknik yang diliputi termasuk pengimejan luminescence, [...]

IMEC Engineers Membentuk FinFETs Pantas Dari Semiconductors Kompaun di Silicon Wafer

pencirian Advanced abstrak memainkan peranan yang penting untuk peningkatan seterusnya keberkesanan kos ($ / Wp) sel solar. Kertas kerja ini membentangkan gambaran keseluruhan teknik-teknik pencirian maju yang buat masa ini digunakan untuk analisis sel-sel solar wafer silikon, sama ada di dalam makmal atau di kilang-kilang. Teknik yang diliputi termasuk pengimejan luminescence, [...]

Silicon Wafer

Silicon Wafer Si wafer Substrate -Silicon Quantity Material Orientation. Diameter Thickness Polish Resistivity Type Dopant Nc Mobility EPD PCS (mm) (μm) Ω·cm   a/cm3 cm2/Vs /cm2 1-100 Si N/A 25.4 280 SSP 1-100 P/b N/A N/A N/A 1-100 Si N/A 25.4 280 SSP 1-100 P/b (1-200)E16 N/A N/A 1-100 Si (100) 25.4 525 N/A <0.005 N/A N/A N/A N/A 1-100 Si (100) 25.4 525±25 SSP <0.005 N/A N/A N/A N/A 1-100 Si with Oxide layer (100) 25.4 525±25 SSP <0.005 N/A N/A N/A N/A 1-100 Si (100) 25.4 350-500 SSP 1~10 N/A N/A N/A N/A 1-100 Si (100) 25.4 400±25 P/E <0.05 P/ N/A N/A N/A 1-100 Si (100) 50.4 400±25 P/E <0.05 P/ N/A N/A N/A 1-100 p-Si with 90 nm SiO2 (100) 50.4 500±25 P/E <0.05 P/ N/A N/A N/A 1-100 n-Si with 90 nm SiO2 (100) 50.4 500±25 P/E <0.05 N/ N/A N/A N/A 1-100 p-Si with 285 nm SiO2 (100) 50.4 500±25 P/E <0.05 N/ N/A N/A N/A 1-100 n-Si with 285 nm SiO2 (100) 50.4 500±25 P/E <0.05 N/ N/A N/A N/A 1-100 Si with electrodes (100) 50.8 400 N/A <0.05 N/p 1E14-1E15 N/A N/A 1-100 Si (100) 50.8 275 SSP 1~10 N/A N/A N/A N/A 1-100 Si (100) 50.8 275±25 SSP 1~10 N/p N/A N/A N/A 1-100 Si (111) 50.8 350±15 SSP >10000 N/A N/A N/A N/A 1-100 Si (100) 50.8 430±15 SSP 5000-8000 N/A N/A N/A N/A 1-100 Si (111) 50.8 410±15 SSP 1~20 N/A N/A N/A N/A 1-100 Si (111) 50.8 400-500 SSP >5000 N/A N/A N/A N/A 1-100 Si (100) 50.8 525±25 SSP 1~50 N/A N/A N/A N/A 1-100 Si (100) 50.8 500±25 SSP 1~10 N  P N/A N/A N/A 1-100 Si (100) 50.8 500±25 P/P >700 P/ N/A N/A N/A 1-100 Si (100) 76.2 400±25 P/E <0.05 P/ N/A N/A N/A 1-100 p-Si with 90 nm SiO2 (100) 76.2 500±25 P/E <0.05 P/ N/A N/A N/A 1-100 n-Si with 90 nm SiO2 (100) 76.2 500±25 P/E <0.05 N/ N/A N/A N/A 1-100 p-Si with 285 nm SiO2 (100) 76.2 500±25 P/E <0.05 N/ N/A N/A N/A 1-100 n-Si with 285 nm SiO2 (100) 76.2 500±25 P/E <0.05 N/ N/A N/A N/A 1-100 Si (100) 100 625 SSP >10000 N/A N/A N/A N/A 1-100 Si (100) 100 525 SSP N/A N/P N/A N/A N/A 1-100 Si (100) 100 320 SSP >2500ohm·cm P/b N/A N/A N/A 1-100 Si (100) 100 N/A SSP 10~30 N/p N/A N/A N/A 1-100 Si (100) 100 505±25 SSP 0.005-0.20 N/P-doped N/A N/A N/A 1-100 Si (100) 100 381 SSP 0.005-0.20 N/P-doped N/A N/A N/A 1-100 Si (100) 100 525 DSP 1-100 N/A N/A N/A N/A 1-100 Si (100) 100 525 DSP 1-100 N/A N/A N/A N/A 1-100 Si (100) 100 625±25 SSP 0.001-0.004 N/A N/A N/A N/A 1-100 Si with Oxide layer 3000A (100) 100 675±25 SSP 0.001-0.004 N/A N/A N/A N/A 1-100 Si (100) 100 625±25 SSP 0.001-0.004 N/A N/A N/A N/A 1-100 Si (100) 100 N/A SSP N/A P/b N/A N/A N/A 1-100 Si (100) 100 500±25 SSP 1~25 N/A N/A N/A N/A 1-100 Si (100) 100 500 SSP 1~10 P/ N/A N/A N/A 1-100 Si (100) 100 500±25 P/E 1-10 N/ N/A N/A N/A 1-100 Si (100) 100 500/525±25 P/P 1-10 N/ N/A N/A N/A 1-100 Si (100) 100 500/525±25 N/A N/A N/A N/A N/A N/A 1-100 Si (100) 100 500±25 P/P >700 P/ N/A N/A N/A 1-100 Si (100) 150 675±25 N/A  0.001-0.004 P/b N/A N/A N/A 1-100 Si (100) 150 675±25 N/A  0.001-0.004 P/b N/A N/A N/A 1-100 Si (100)/(111) 150 550~650 DSP N/A N/A N/A N/A N/A 1-100 Si (100)/(111) 150 600-700 SSP <0.5 N/A N/A N/A N/A 1-100 Si (111) 150 400±25 DSP <50 N/ N/A N/A N/A 1-100 Si (100) 150 545 P/E 1-3 N/ N/A N/A N/A 1-100 Si (100) 200 725±25 SSP 1~25 P/ N/A N/A N/A As a [...]