Laporan ujian diperlukan untuk menunjukkan pematuhan antara perihalan tersuai dan data wafer akhir kami. Kami akan menguji pencirian wafer oleh peralatan sebelum penghantaran, menguji kekasaran permukaan oleh mikroskop daya atom, jenis oleh instrumen spektrum Rom, kerintangan oleh peralatan ujian kerintangan bukan sentuhan, ketumpatan mikropip dengan mikroskop polarisasi, orientasi oleh X-ray Orientator dsb. jika wafer memenuhi keperluan, kami akan membersihkan dan membungkusnya dalam 100 bilik bersih kelas, jika wafer tidak sepadan dengan spesifikasi tersuai, kami akan menanggalkannya.
Projek Pengujian: XRD Goyang Lengkung
Lebar penuh separuh tinggi (FWHM) ialah ungkapan julat fungsi yang diberikan oleh perbezaan antara dua nilai ekstrem pembolehubah bebas yang sama dengan separuh daripada maksimumnya. Dalam erti kata lain, ia ialah lebar lengkung spektrum yang diukur antara titik tersebut pada paksi Y, iaitu separuh amplitud maksimum.
Di bawah ialah contoh Lengkung Goyang XRD Bahan GaN:
XRD Lengkung Goyang Bahan GaN
Untuk maklumat lanjut, sila hubungi kami e-mel divictorchan@powerwaywafer.com dan powerwaymaterial@gmail.com.