Top 10 Publicação em em Microeletrônica e empacotamento eletrônico por Citation

Top 10 Publicação em em Microeletrônica e empacotamento eletrônico por Citation

Top 10 Publicação em em Microeletrônica e empacotamento eletrônico por Citation

Postar: PAM-XIAMEN, Date: Jan 13,2020

PAM-XIAMEN compilou topo 10 os dados de classificação e o nome da publicação em Microelectronics & Embalagem electrónico por citação no factor de impacto (h5-indicador e médio H5, de acordo com a Google scholar)

PAM-XIAMEN é um fabricante de bolacha de material semicondutor, tal como SiC bolacha e GaN bolacha para microelectrónica dispositivo ou dispositivos semicondutores

A publicação de topo são os seguintes:

 

Publicação h5-índice h5-médio
1. IEEE Transactions on Electron Devices 56 66
2. Device Letters IEEE Electron 53 69
3. IEEE Internacional Electron Devices Meeting, IEDM 44 62
4. cartas Eletrônica 39 50
5. Engenharia microeletrônica 34 46
6. Microelectronics Confiabilidade 32 42
7. IEEE Transactions on Components, Packaging and Technology Manufacturing 30 37
8. MTT-S Simpósio Microwave IEEE / Internacional 28 38
9. Microelectronics Jornal 28 36
10. Simpósio IEEE sobre VLSI Tecnologia 27 46

Referência: Microelectronics & empacotamento eletrônico

 

 

 

 

 

 

 

O top 1 é IEEE Transactions on Electron Devices, que publica contribuições originais e significativos relacionados com a teoria, modelagem, design, desempenho e confiabilidade de elétrons e dispositivos de circuitos integrados de íons e interconexões. Nesta publicação, 5 principais artigos tem a maior contribuição por h5-índice:

 

Título / Autor Citado por Ano
Experimental Demonstration and Tolerancing of a Large-Scale Neural Network (165 000 Synapses) Using Phase-Change Memory as the Synaptic Weight Element

GW Burr, RM Shelby, S Sidler, C di Nolfo, J Jang, eu Boybat, RS Shenoy, ...

353 2015
GaN-on-Si Power Technology: Devices and Applications

KJ Chen, ó Häberlen, Um Lidow, C lin Tsai, t Ueda, Y Uemoto, Y Wu

205 2017
Vertical Power pn Diodes Based on Bulk GaN

IC Kizilyalli, AP Edwards, ó Aktas, t Prunty, D Bour

170 2014
Basic Mechanisms of Threshold-Voltage Instability and Implications for Reliability Testing of SiC MOSFETs

AJ Lelis, R Verde, DB Habersat, M El

155 2014
Crossbar RRAM Arrays: Selector Device Requirements During Read Operation

Zhou J, KH Kim, W Lu

107 2014

 

O sistema de avaliação factor H foi originalmente proposto por Jorge Hirsch, um físico Califórnia, para avaliar a influência de um estudante. Ou seja, uma pessoa citou pelo menos n papéis em todos os seus trabalhos acadêmicos publicados, e seu índice h é n. Da mesma forma, o Google usa escolares de TI para a avaliação revista e define um limite de tempo de cinco anos para evitar o problema que o fator H apenas aumenta e não diminui. Um outro conceito relacionado é H5 mediano, que se refere ao número de citações de artigos medianos H-core. Ele também é diferente do conceito de média ao calcular fatores de impacto.

Comparado com os fatores de impacto de dois anos, é mais difícil para as pessoas para manipular deliberadamente os indicadores revista metrologia baseadas em H5. O fator H5 não aumenta significativamente devido ao grande número de artigos citados. Como mencionado anteriormente, deliberadamente reduzir o número de mensagens não só não terá nenhum efeito sobre a promoção de factores de H5, mas também ter um impacto negativo. Aqui H5 é para artigos publicados em 2014-2018

 

Definição: Microelectronics e empacotamento eletrônico: o estudo e fabricação de microeletrônica, multi-chips de módulo tecnologias, empacotamento eletrônico, materiais semicondutores, montagem de superfície e outras tecnologias relacionadas, interconexões, de RF e microondas, comunicação sem fio, fabricação, design, teste e confiabilidade com base em material semicondutor, tal como pastilha de silício, SiC bolacha, e GaN bolacha. A corrente de processo completo são substrato semicondutor, epitaxia de semicondutor, o dispositivo semicondutor ou módulo e embalagem electrónica.

 

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