Top 10 Publicação em em Microeletrônica e empacotamento eletrônico por Citation
Postar: PAM-XIAMEN, Date: Jan 13,2020
PAM-XIAMEN compilou topo 10 os dados de classificação e o nome da publicação em Microelectronics & Embalagem electrónico por citação no factor de impacto (h5-indicador e médio H5, de acordo com a Google scholar)
A publicação de topo são os seguintes:
Publicação | h5-índice | h5-médio | |
1. | IEEE Transactions on Electron Devices | 56 | 66 |
2. | Device Letters IEEE Electron | 53 | 69 |
3. | IEEE Internacional Electron Devices Meeting, IEDM | 44 | 62 |
4. | cartas Eletrônica | 39 | 50 |
5. | Engenharia microeletrônica | 34 | 46 |
6. | Microelectronics Confiabilidade | 32 | 42 |
7. | IEEE Transactions on Components, Packaging and Technology Manufacturing | 30 | 37 |
8. | MTT-S Simpósio Microwave IEEE / Internacional | 28 | 38 |
9. | Microelectronics Jornal | 28 | 36 |
10. | Simpósio IEEE sobre VLSI Tecnologia | 27 | 46 |
Referência: Microelectronics & empacotamento eletrônico
O top 1 é IEEE Transactions on Electron Devices, que publica contribuições originais e significativos relacionados com a teoria, modelagem, design, desempenho e confiabilidade de elétrons e dispositivos de circuitos integrados de íons e interconexões. Nesta publicação, 5 principais artigos tem a maior contribuição por h5-índice:
Título / Autor | Citado por | Ano |
Experimental Demonstration and Tolerancing of a Large-Scale Neural Network (165 000 Synapses) Using Phase-Change Memory as the Synaptic Weight Element
GW Burr, RM Shelby, S Sidler, C di Nolfo, J Jang, eu Boybat, RS Shenoy, ... |
353 | 2015 |
GaN-on-Si Power Technology: Devices and Applications
KJ Chen, ó Häberlen, Um Lidow, C lin Tsai, t Ueda, Y Uemoto, Y Wu |
205 | 2017 |
Vertical Power pn Diodes Based on Bulk GaN
IC Kizilyalli, AP Edwards, ó Aktas, t Prunty, D Bour |
170 | 2014 |
Basic Mechanisms of Threshold-Voltage Instability and Implications for Reliability Testing of SiC MOSFETs
AJ Lelis, R Verde, DB Habersat, M El |
155 | 2014 |
Crossbar RRAM Arrays: Selector Device Requirements During Read Operation
Zhou J, KH Kim, W Lu |
107 | 2014 |
O sistema de avaliação factor H foi originalmente proposto por Jorge Hirsch, um físico Califórnia, para avaliar a influência de um estudante. Ou seja, uma pessoa citou pelo menos n papéis em todos os seus trabalhos acadêmicos publicados, e seu índice h é n. Da mesma forma, o Google usa escolares de TI para a avaliação revista e define um limite de tempo de cinco anos para evitar o problema que o fator H apenas aumenta e não diminui. Um outro conceito relacionado é H5 mediano, que se refere ao número de citações de artigos medianos H-core. Ele também é diferente do conceito de média ao calcular fatores de impacto.
Comparado com os fatores de impacto de dois anos, é mais difícil para as pessoas para manipular deliberadamente os indicadores revista metrologia baseadas em H5. O fator H5 não aumenta significativamente devido ao grande número de artigos citados. Como mencionado anteriormente, deliberadamente reduzir o número de mensagens não só não terá nenhum efeito sobre a promoção de factores de H5, mas também ter um impacto negativo. Aqui H5 é para artigos publicados em 2014-2018
Definição: Microelectronics e empacotamento eletrônico: o estudo e fabricação de microeletrônica, multi-chips de módulo tecnologias, empacotamento eletrônico, materiais semicondutores, montagem de superfície e outras tecnologias relacionadas, interconexões, de RF e microondas, comunicação sem fio, fabricação, design, teste e confiabilidade com base em material semicondutor, tal como pastilha de silício, SiC bolacha, e GaN bolacha. A corrente de processo completo são substrato semicondutor, epitaxia de semicondutor, o dispositivo semicondutor ou módulo e embalagem electrónica.