Слиток кремния

Слиток кремния

Вы можете купить кремниевый слиток P-типа или N-типа у компании PAM-XIAMEN, которая занимается производством кремниевых слитков. Чтобы получить слиток монокристаллического кремния, кремниевый материал плавится в монокристаллической печи, а затем подвергается серии процессов для выращивания в стержни из монокристаллического кремния и последующей механической обработки стержней из монокристаллического кремния и, наконец, получения кристалла кремниевой були.

слиток кремния

1. Список слитков кремния

Номер слитка Диаметр слитка Тип, Ориентация Длина слитка (мм) Удельное сопротивление Продолжительность жизни Кол-во
ПАМ-СИАМЭНЬ-ИНГОТ-24 103.4 N111 167 15000 1
ПАМ-СИАМЭНЬ-ИНГОТ-25 103.5 N111 196 17000 1
ПАМ-СИАМЭНЬ-СЛИГОТ-62 105 N100 165 810 1
PAM-XIAMEN-INGOT-67 MC200 P110 243 0.313 3,51% 1
PAM-XIAMEN-INGOT-89 200 P110 186 1.61 10,56% 1
PAM-XIAMEN-INGOT-93 86 N100 76 4700 1
ПАМ-СИАМЭНЬ-ИНГОТ-94 82 N100 75 6800 1
ПАМ-СИАМЭНЬ-ИНГОТ-95 79 N100 102 13000 1
ПАМ-СИАМЭНЬ-СЛИГОТ-100 8 " 300мм 1
ПАМ-СИАМЭНЬ-СЛИГОТ-108 4 " 95мм 1
PAM-XIAMEN-INGOT-109 6 " 252mm 1
ПАМ-СИАМЭНЬ-СЛИГОТ-113 2 " 195мм 1
ПАМ-СИАМЭНЬ-СЛИГОТ-114 3 " 95мм 1
ПАМ-СИАМЭНЬ-СЛИГОТ-127 Сторона А 140 мм и сторона В 170 мм 100мм 1

2. Классификация кристаллов кремния по методу выращивания.

Монокристаллический кремний является очень важным материалом из кристаллического кремния. В соответствии с различными методами выращивания слитков кремния на заводе по производству слитков кремния его можно разделить на монокристаллический кремний зонной плавки и монокристаллический кремний Чохральского.

* Монокристалл кремния зонной плавки получают методом зонной плавки, поэтому его также называют монокристаллом кремния FZ. Слиток кремния FZ в основном используется в мощных устройствах и составляет лишь небольшую часть рынка монокристаллического кремния.

* Монокристаллический кремний Чохральского получают методом Чохральского, который называется монокристаллическим кремнием CZ. Слиток кремния CZ в основном используется в микроэлектронных интегральных схемах и солнечных элементах.

3. Отраслевые нормы для слитков кристаллического кремния CZ или FZ

Кремниевые слитки для солнечных, энергетических устройств или других областей отличаются высоким качеством и конкурентоспособной ценой. Более того, параметрыкристалл монокристаллического кремниясоответствовать установленным нормам. Кроме того, вы можете настроить чистоту слитка кремния.

3.1 Удельное сопротивление монокристалла кремния и срок службы носителя

Диапазон сопротивлений и время жизни неосновных носителей слитков высокоомного кремния FZ должны соответствовать требованиям следующей таблицы:

Тип проводимости добавка Диаметр/мм Диапазон удельного сопротивления/(Ом-см) Срок службы миноритарных перевозчиков/нас
p B 30~200 3 000~20 000 >500
n p 30~200 800~10 000 >1 000
Значение удельного сопротивления представляет собой удельное сопротивление монокристалла кремния, измеренное двумя датчиками.

 

Диапазон удельного сопротивления и изменение радиального удельного сопротивления слитка кристалла кремния от нас соответствуют требованиям, указанным в следующей таблице.

Срок службы слитка CZ Si должен определяться путем переговоров между поставщиком и покупателем.

Тип проводимости Легирующий элемент Диапазон сопротивления/(Ом-см) Изменение радиального удельного сопротивления б/%
<50,8 мм (100)/(111) 50,8 мм (100)/(111) 76,2 мм (100)/(111) 100 мм (100)/(111) 125 мм (100)/(111) 150 мм (100)/(111) 200 мм (100)
p B 0,001~0,1 ≤8 ≤8 ≤8 ≤6/≤6 ≤6/≤9 ≤5/≤8 ≤12
>0,1~60 ≤8 ≤8 ≤8 ≤8/≤9 ≤6/≤9 ≤5/≤8 ≤5
n P 0,001~0,1 ≤15/≤25 ≤15/≤25 ≤15/≤25 ≤15/≤25 ≤15/≤25 ≤15/≤25 ≤15
>0,1~60 ≤12/≤20 ≤12/≤20 ≤12/≤20 ≤12/≤25 ≤12/≤25 ≤12/≤25 ≤15
n Sb ≤0.02 ≤12/20 ≤12/20 ≤12/20 ≤12/≤25 ≤10/≤25 ≤10/≤35 ≤12
В виде ≤0.006 ≤12/20 ≤12/20 ≤12/20 ≤12/≤25 ≤12/≤30 ≤12/≤30 ≤12

 

* Значение удельного сопротивления измеряется на поперечном сечении монокристалла кремния с использованием прямого четырехштырькового штыря;

* Величина радиального изменения удельного сопротивления измеряется на заданном торце слитка кремния прямым рядом из четырех игл.

3.2 Стандартный метод проверки ориентации слитка кремния

Отклонение ориентации кристалла CZ должно быть </= 2°, а отклонение ориентации кристалла слитка кремния FZ должно быть </=5°. Существует 2 основных метода проверки ориентации слитка кремния:

а) Метод ориентации по рентгеновской дифракции

Атомы слитка кремния, расположенные в трехмерной периодической кристаллической структуре, можно рассматривать как атомы, расположенные в ряду параллельных плоскостей с вертикальным расстоянием d в пространстве. Когда параллельный монохроматический рентгеновский луч падает на плоскость, а оптическая разность хода между соседними плоскостями рентгеновского излучения составляет целое число, кратное его длине волны, происходит дифракция (отражение).

б) Ориентация светового пятна

После того, как поверхность слитка кремния будет отшлифована и предпочтительно протравлена, появится множество крошечных ямок. Эти ямки ограничены плоскостью, относящейся к основному направлению булли материала, и эти граничные плоскости определяют форму ямок протравленной поверхности. Световая картина небольшой плоскости, состоящей из ямок, связана с кристаллографическим направлением измеряемой плоскости, поэтому световую картину можно использовать для определения кристаллографического направления поверхности и угла ее отклонения.

4. Другие сообщения о кремниевых слитках, пожалуйста, прочитайте:

1 ″ Слиток кремния FZ диаметром 25 мм

2-дюймовый слиток кремния FZ диаметром 50 мм

Слитки кремния-1

Слитки кремния-2

Слитки кремния-3

Кристалл кремния типа P или N с ориентацией (100), (110) или (111)

 

Powerwaywafer

Для получения дополнительной информации, пожалуйста, свяжитесь с нами по электронной почте по адресуvictorchan@powerwaywafer.com и powerwaymaterial@gmail.com.

Поделиться этой записью