Тег - Тонкие пленки InAlN

Химический отрыв и прямое соединение пластин структур GaN/InGaN P–I–N, выращенных на ZnO

Основные моменты • Выращивание методом MOCVD солнечного элемента p-GaN/i-InGaN/n-GaN (PIN) на шаблонах ZnO/сапфира. •Углубленные структурные характеристики, показывающие отсутствие обратного травления ZnO. •Химическое отрывание и приклеивание структуры к флоат-стеклу. •Конструктивные характеристики устройства на стекле. Абстрактные структуры p-GaN/i-InGaN/n-GaN (PIN) были выращены эпитаксиально на подложках к-сапфира, забуференных ZnO, методом газофазной эпитаксии из металлоорганических соединений с использованием [...]

Динамика внедрения индия в N-полярные тонкие пленки InAlN, выращенные методом плазменной молекулярно-лучевой эпитаксии на автономных подложках GaN

Основные моменты • Тонкие пленки N-полярного InAlN были выращены на подложках GaN методом молекулярно-лучевой эпитаксии. • Морфология поверхности перешла от квази-3D к ступенчатому потоку при высокой температуре. • Насыщение индия наблюдалось при увеличении потока индия при высокой температуре. • Увеличение количества алюминиевого флюса помогло повысить эффективность внедрения индия. • Были продемонстрированы N-полярные пленки InAlN со среднеквадратичной шероховатостью 0,19 нм. Абстрактный N-полярный InAlN [...]