Система распознавания кластеров дефектов готовых полупроводниковых пластин
Международная технологическая дорожная карта для полупроводников (ITRS) определяет данные производственных испытаний как важный элемент совершенствования конструкции и технологий в контуре обратной связи производственного процесса. Одно из наблюдений, сделанных на основе данных крупносерийных производственных испытаний, заключается в том, что штампы, вышедшие из строя из-за систематического отказа, имеют [...]