Liaison de tranches de silicium complètes avec des films intermédiaires de dioxyde de titane et d'oxyde d'aluminium déposés sur une couche atomique

Liaison de tranches de silicium complètes avec des films intermédiaires de dioxyde de titane et d'oxyde d'aluminium déposés sur une couche atomique

Liaison de tranches de silicium complètes avec des films intermédiaires de dioxyde de titane et d'oxyde d'aluminium déposés sur une couche atomique

Plaquettes de silicium sur isolant (SOI) fabriqués par liaison directe de tranches sont largement utilisés comme substrats de départ pour la fabrication de systèmes microélectromécaniques (MEMS). Ajouter une autre couche à côté du SiO2Le SOI, ou son remplacement par un autre matériau, sera un moyen d'adapter davantage les plaquettes SOI. Le dépôt de couche atomique (ALD) peut être utilisé pour déposer à basse température des films inorganiques conformes et lisses d'une épaisseur nanométrique sans trou d'épingle, ce qui le rend intéressant pour de nombreuses applications dans les MEMS. Dans ce travail, la liaison directe de tranche d'ALD TiO2, et Al2O3à titre de référence, est étudié, éventuellement afin de fabriquer des tranches SOI avec des oxydes ALD enterrés. Trouver des conditions de traitement appropriées pour le TiO2la liaison était difficile : la liaison n'a pas pu être réalisée pour le TiO2déposé directement sur SiO2ou Si, et le recuit à 1 100 °C a donné des couches non continues contenant du Ti. Utilisation d'un Al 2 nm2O3la sous-couche et le recuit à 700 °C ont donné une liaison sans vide avec du TiO continu2et une force de liaison d'environ 1600 mJ/m2, permettant la fabrication de plaquettes SOI avec du TiO enterré2.

Mots clés

    • Dépôt de couche atomique;
    • ALD;
    • Collage de plaquettes;
    • Silicium sur isolant;
    • DONC JE;
    • Al2O3;
    • TiO2

 

Source : Sciencedirect

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