Masque de photolithographie

Masque de photolithographie

Des masques de photolithographie chromés sont à vendre. Selon les différents matériaux de substrat, il peut être divisé en masque à quartz, masque à soude et autres (y compris plaque en relief, film), etc. Parmi eux, le photomasque sur substrat de quartz et de chaux sodée sont des masques de lithographie couramment utilisés dans les universités et les instituts de recherche. Pour en savoir plus sur les spécifications de PAM-XIAMEN, veuillez consulter ce qui suit :

Masque de photolithographie

No.1 Chrome Masque Blank PAM191218-MASKS

Spécifications du substrat de masque

Matériel chaux sodée
Dimension 3″x3″
Épaisseur 0,060" ±0,004"
Platitude 15u
Défauts Aucun
Spécifications de la métallisation au chrome
Épaisseur du film chromé 1100A±10%
Densité optique à 530 nm 2,8±0,2
Grade de plaque de masque Imprimer
Trou d'épingle > 5um aucun, 1-5u 0.3/pouce carré
Spécifications de résistance
Résister AZ1500
Épaisseur de résistance 5300A±150A
Défauts Aucun

 

Marque:
Les plaques de masque chromées sont recouvertes de photorésist. Ces plaques de masque sont utilisées pour créer des motifs ayant des caractéristiques minimales jusqu'à 0,5 micron en utilisant la lithographie LASER et la gravure humide/sèche donc.

Masque de photolithographie n°2 PAM190702-MASKL

Matériel Masque de lithographie de 5 pouces
Exigences Photomasque pour stepper ( modèle : 5009)

Modèle de la machine de lithographie : ASML PA5000/50

Échelle : 5:1

Exigences relatives à l'indice de qualité graphique
Précision graphique 100%
CD 2um
Tolérance CD 0.5um
Densité des défauts 1 pièce
Gravure Tolérance 0.5um

 

Masque de photolithographie n° 3 à motifs chromés PAM190621-MASKL

N° 3-1 Conception et impression de masques de photolithographie 4"
Taille du masque : 4" x 4" carré
Matériau du masque : Quartz
Matériau du motif : Chrome

Service pour inclure la conception de modèles pour le processus de fabrication de transistors à haute mobilité électronique (HEMT) (6 modèles) et la mesure de ligne de transmission (TLM) pour l'analyse de résistance de contact spécifique (2 modèles)

4 motifs sur 1 masque (chacun à 1/4 de la surface du masque) – 8 motifs au total

N° 3-2 Conception et impression de masques photolithographiques 5"
Taille du masque : 5" x 5" carré
Matériau du masque : Quartz
Matériau du motif : Chrome

Service pour inclure la conception de motifs pour le substrat en saphir à motifs (PSS)

4 motifs sur 1 masque (chacun à 1/4 de la surface du masque)

Notez s'il vous plaît: Les paramètres techniques des 2 éléments ci-dessus répondent aux exigences suivantes :

Tailles de masque (mm) Largeur minimale de couture et de ligne Précision des coutures Marque
101,6*101,6*2,3 3um≤W≤5um ±0.3um Matériau quartz
127,0*127,0*2,3 3um≤W≤5um ±0.3um Matériau quartz
101,6*101,6*3,0 3um≤W≤5um ±0.3um Matériau quartz
127,0*127,0*3,0 3um≤W≤5um ±0.3um Matériau quartz

 

Masque de phase n°4 PAM190717-MASKQ
Pas : 1095,8 nm
Taille : 25 mm x 3 mm
Longueur d'onde d'éclairage 248 nm
Taille du substrat : 35*17.2mm
Épaisseur du masque de phase : 1/4 pouce (6,35 mm)

Masque de phase uniforme n° 5 PAM190821-MASKJ
Masque de phase uniforme pour réseau de Bragg 1575 nm
Période de réseau : 1088 nm
Précision et uniformité de la période de réseau : +/- 0,01 nm
Taille de la grille : 10 mm x 10 mm
Dimensions du substrat : 30 mm x 25 mm
Optimisé pour un éclairage non polarisé de 248 nm
0. ordre : < 3%

Pour plus d'informations, veuillez nous contacter par e-mail à victorchan@powerwaywafer.com et powerwaymaterial@gmail.com.

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